动态光散射（DLS）纳米级精度检测

信息概要

动态光散射（DLS）纳米级精度检测是一种通过分析颗粒在溶液中的布朗运动来测量其粒径分布和流体力学直径的技术。该技术广泛应用于纳米材料、生物医药、化工等领域，能够提供高精度的粒径数据，对于产品质量控制、研发优化以及安全性评估具有重要意义。通过DLS检测，可以确保纳米材料的稳定性、均一性以及性能表现，为相关行业提供可靠的技术支持。

检测项目

粒径分布, 流体力学直径, 多分散指数, Zeta电位, 分子量, 聚集状态, 稳定性分析, 浓度测定, 颗粒形状, 表面电荷, 分散性, 温度依赖性, pH依赖性, 粘度影响, 折射率, 散射强度, 衰减系数, 扩散系数, 沉降速度, 光学性质

检测范围

纳米颗粒, 胶体溶液, 蛋白质, 聚合物, 脂质体, 微乳液, 病毒颗粒, 细胞外囊泡, 金属纳米材料, 碳纳米管, 量子点, 药物载体, 化妆品原料, 食品添加剂, 环境污染物, 生物大分子, 陶瓷粉末, 复合材料, 涂料, 染料

检测方法

动态光散射法（DLS）：通过测量颗粒的布朗运动计算粒径分布。

静态光散射法（SLS）：用于测定分子量和颗粒形状。

电泳光散射法（ELS）：测量Zeta电位和表面电荷。

多角度光散射法（MALS）：提供更精确的粒径和分子量数据。

背散射光散射法（BLS）：适用于高浓度样品的检测。

荧光相关光谱法（FCS）：用于低浓度荧光标记颗粒的检测。

纳米颗粒跟踪分析（NTA）：通过跟踪颗粒运动轨迹测量粒径。

离心沉降法：通过离心力测定颗粒的沉降速度。

场流分馏法（FFF）：分离不同粒径的颗粒后进行检测。

透射电子显微镜法（TEM）：直接观察颗粒形貌和尺寸。

扫描电子显微镜法（SEM）：提供颗粒表面形貌信息。

原子力显微镜法（AFM）：测量颗粒的三维形貌和高度。

X射线衍射法（XRD）：分析颗粒的晶体结构和尺寸。

拉曼光谱法：提供颗粒的化学组成和结构信息。

紫外-可见光谱法（UV-Vis）：测定颗粒的光学性质。

检测仪器

动态光散射仪, 静态光散射仪, 电泳光散射仪, 多角度光散射仪, 背散射光散射仪, 荧光相关光谱仪, 纳米颗粒跟踪分析仪, 离心沉降仪, 场流分馏仪, 透射电子显微镜, 扫描电子显微镜, 原子力显微镜, X射线衍射仪, 拉曼光谱仪, 紫外-可见分光光度计

北检院部分仪器展示