相分离结构 原子力显微镜（AFM）

信息概要

相分离结构原子力显微镜（AFM）是一种高分辨率的表面形貌和力学性能分析工具，广泛应用于材料科学、生物医学、纳米技术等领域。该技术通过探针与样品表面的相互作用力，实现对相分离结构的纳米级表征。检测相分离结构对于理解材料的微观性能、优化制备工艺以及确保产品质量至关重要。通过AFM检测，可以获取材料的形貌、力学性能、电学性能等多维度信息，为科研和工业应用提供可靠的数据支持。

检测项目

表面粗糙度，相分离形貌，弹性模量，粘附力，摩擦力，表面电势，电流分布，磁畴结构，纳米力学性能，表面电荷分布，薄膜厚度，颗粒分布，相图分析，界面特性，材料硬度，表面能，润湿性，分子间作用力，纳米级缺陷，热稳定性

检测范围

高分子共混物，嵌段共聚物，生物膜材料，纳米复合材料，液晶材料，胶体体系，蛋白质聚集物，聚合物薄膜，自组装材料，多孔材料，金属合金，半导体材料，涂层材料，凝胶材料，生物组织，纳米颗粒，纤维材料，界面材料，功能薄膜，复合材料

检测方法

接触模式AFM：通过探针与样品直接接触，获取高分辨形貌和力学性能数据。

轻敲模式AFM：探针在共振频率附近振动，减少对样品的损伤，适用于软材料。

相位成像AFM：通过相位信号分析材料的粘弹性和组分分布。

力调制AFM：测量材料的局部弹性模量和刚度。

静电力显微镜（EFM）：检测表面电势和电荷分布。

磁力显微镜（MFM）：表征材料的磁畴结构和磁性分布。

导电AFM（CAFM）：测量样品的局部电导率和电流分布。

扫描热显微镜（SThM）：分析材料的热导率和温度分布。

纳米压痕测试：通过AFM探针进行纳米级压痕，测量硬度和弹性模量。

摩擦力显微镜（FFM）：研究表面的摩擦力和摩擦系数。

频移成像AFM：利用频移信号分析材料的能量耗散和粘弹性。

多频AFM：同时激发多个频率，提高成像速度和分辨率。

高速AFM：实现动态过程的实时观测和高通量检测。

环境控制AFM：在特定气体或液体环境中进行检测，模拟实际应用条件。

三维重构AFM：通过多角度扫描，重建样品的三维形貌和结构。

检测仪器

原子力显微镜（AFM），静电力显微镜（EFM），磁力显微镜（MFM），导电原子力显微镜（CAFM），扫描热显微镜（SThM），摩擦力显微镜（FFM），纳米压痕仪，多频AFM系统，高速AFM系统，环境控制AFM，三维重构AFM，频移成像AFM，力调制AFM，相位成像AFM，轻敲模式AFM

北检院部分仪器展示