电子元件失效污染物红外溯源

信息概要

电子元件失效污染物红外溯源是通过红外光谱技术对电子元件表面的污染物进行定性或定量分析，以确定其成分及来源的检测项目。该检测对于电子元件的可靠性分析、失效原因追溯以及生产工艺优化具有重要意义。通过精准识别污染物种类和来源，可有效预防因污染导致的元件失效，提升产品质量和寿命。检测范围涵盖各类电子元件及其生产过程中可能引入的污染物，适用于电子制造、航空航天、汽车电子等高精度领域。

检测项目

有机物残留量,无机物残留量,硅油污染,焊剂残留,指纹污染,灰尘颗粒,金属离子污染,氧化层分析,塑化剂迁移,助焊剂成分,油脂污染,胶粘剂残留,溶剂残留,表面活性剂,防锈剂残留,脱模剂残留,腐蚀产物,镀层污染物,封装材料析出物,环境粉尘吸附

检测范围

集成电路,半导体器件,电阻器,电容器,电感器,二极管,晶体管,继电器,连接器,传感器,变压器,滤波器,振荡器,电源模块,光电器件,微波元件,磁性元件,散热器,封装材料,印刷电路板

检测方法

傅里叶变换红外光谱法(FTIR)：通过分子振动光谱识别有机污染物成分。

显微红外光谱法：针对微小区域污染物进行高空间分辨率分析。

衰减全反射红外光谱法(ATR)：适用于表面污染物的无损检测。

热重-红外联用法(TG-IR)：分析污染物热分解过程中的气体产物。

气相色谱-红外联用法(GC-IR)：分离并鉴定复杂混合物中的污染物。

红外成像技术：实现污染物分布的可视化分析。

差示扫描量热-红外联用法(DSC-IR)：研究污染物在热效应下的变化。

拉曼光谱法：与红外光谱互补，提供分子结构信息。

X射线光电子能谱法(XPS)：分析表面元素组成及化学状态。

扫描电子显微镜-能谱联用法(SEM-EDS)：观察污染物形貌及元素组成。

离子色谱法：检测无机离子类污染物。

质谱分析法：确定污染物的分子量及结构信息。

原子吸收光谱法：测定金属元素污染物含量。

电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)：痕量元素分析。

接触角测量法：评估污染物对表面润湿性的影响。

检测仪器

傅里叶变换红外光谱仪,显微红外光谱仪,热重-红外联用仪,气相色谱-红外联用仪,红外成像系统,拉曼光谱仪,X射线光电子能谱仪,扫描电子显微镜,能谱仪,离子色谱仪,质谱仪,原子吸收光谱仪,电感耦合等离子体质谱仪,接触角测量仪,差示扫描量热仪

北检院部分仪器展示