原子力显微镜检测原料检测

信息概要

原子力显微镜（AFM）检测是一种高分辨率的表面形貌和力学性能分析技术，广泛应用于原料的纳米级表征。通过检测原料的表面形貌、力学性能、电学性能等参数，可以确保产品质量、优化生产工艺，并满足研发与生产的质量控制需求。此类检测在材料科学、生物医药、半导体等领域具有重要意义，能够为产品性能评估和缺陷分析提供关键数据支持。

检测项目

表面粗糙度，表面形貌，弹性模量，粘附力，摩擦力，硬度，表面电势，导电性，磁畴结构，纳米级缺陷，薄膜厚度，颗粒分布，相分离，表面电荷分布，表面能，润湿性，纳米力学性能，分子间作用力，表面拓扑结构，化学组成分布

检测范围

纳米材料，聚合物，金属薄膜，半导体材料，生物样品，陶瓷，复合材料，涂层，纤维，石墨烯，碳纳米管，量子点，胶体，生物膜，药物颗粒，催化剂，光学薄膜，磁性材料，超导材料，有机薄膜

检测方法

接触模式：探针与样品表面直接接触，用于高分辨率形貌成像和力学性能测量。

轻敲模式：探针在共振频率附近振动，减少对样品的损伤，适合柔软样品。

非接触模式：探针在样品表面上方振动，避免接触，用于易损样品检测。

力曲线测量：通过探针与样品的相互作用力曲线分析力学性能。

相位成像：通过探针振动的相位变化分析样品表面粘弹性。

导电AFM：测量样品表面的局部导电性能。

磁力AFM：检测样品表面的磁畴结构。

静电力AFM：分析样品表面的静电荷分布。

纳米压痕：通过探针施加压力测量样品的硬度和弹性模量。

化学力显微镜：通过功能化探针检测样品表面的化学性质。

频移成像：利用频率变化分析样品表面的能量耗散。

高速AFM：实时观测动态过程，如生物分子运动。

环境控制AFM：在特定气体或液体环境中进行检测。

多参数成像：同时获取形貌、力学、电学等多维数据。

低温AFM：在低温环境下进行高分辨率检测。

检测仪器

原子力显微镜，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，X射线衍射仪，拉曼光谱仪，红外光谱仪，紫外可见分光光度计，纳米压痕仪，表面轮廓仪，动态光散射仪，Zeta电位仪，热重分析仪，差示扫描量热仪，质谱仪，能谱仪

北检院部分仪器展示