微区X射线衍射-材料相变分析

信息概要

微区X射线衍射-材料相变分析是一种通过高分辨率X射线衍射技术对材料微观结构及相变行为进行精确表征的检测方法。该技术广泛应用于材料科学、冶金、半导体、新能源等领域，能够提供材料晶体结构、相组成、晶格参数、应力分布等关键信息。检测的重要性在于帮助研发人员优化材料性能、控制生产工艺、提高产品质量，并为新材料开发提供科学依据。

检测项目

晶体结构分析，相组成鉴定，晶格参数测定，残余应力分析，织构分析，晶粒尺寸计算，微观应变测量，择优取向分析，相变温度测定，相变动力学研究，缺陷密度评估，薄膜厚度测量，界面扩散分析，热膨胀系数测定，原位相变监测，多晶材料表征，非晶材料结晶度分析，纳米材料结构表征，复合材料界面相容性，高温/低温相变行为

检测范围

金属合金，陶瓷材料，半导体器件，高分子聚合物，纳米材料，复合材料，薄膜材料，涂层材料，电池材料，磁性材料，超导材料，光伏材料，催化剂，矿物样品，生物材料，玻璃材料，水泥建材，电子封装材料，形状记忆合金，功能梯度材料

检测方法

微区X射线衍射（μ-XRD）：利用聚焦X射线束对材料微小区域进行衍射分析

高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于精确测定晶格参数和薄膜结构

掠入射X射线衍射（GIXRD）：专门用于薄膜和表面层的结构分析

原位X射线衍射：实时监测材料在温度、压力等外场作用下的结构变化

二维X射线衍射：获取材料空间取向和织构信息

小角X射线散射（SAXS）：分析纳米尺度结构特征

X射线反射（XRR）：测定薄膜厚度和界面粗糙度

能量色散X射线衍射（EDXRD）：适用于高压或极端环境下的相变研究

同步辐射X射线衍射：利用高亮度光源进行超高分辨率分析

粉末X射线衍射：用于多晶材料的相组成分析

单晶X射线衍射：确定材料的精确晶体结构

应力分析X射线衍射：测量材料残余应力和应变分布

变温X射线衍射：研究材料热膨胀行为和相变温度

时间分辨X射线衍射：跟踪快速相变过程的动力学特征

微束X射线荧光（μ-XRF）：结合元素分布进行综合分析

检测仪器

微区X射线衍射仪，高分辨率X射线衍射仪，二维X射线衍射系统，原位X射线衍射装置，同步辐射光束线站，粉末X射线衍射仪，单晶X射线衍射仪，应力分析衍射仪，变温X射线衍射附件，时间分辨X射线检测系统，小角X射线散射仪，X射线反射仪，掠入射X射线衍射附件，能量色散X射线衍射装置，微束X射线荧光光谱仪

北检院部分仪器展示