X射线衍射(XRD)残余应力分析

信息概要

X射线衍射(XRD)残余应力分析是一种通过测量材料晶格间距变化来评估残余应力的非破坏性检测技术。残余应力是材料在加工、焊接、热处理等过程中产生的内部应力，可能影响产品的力学性能、疲劳寿命和尺寸稳定性。通过XRD残余应力分析，可以准确量化材料表面的应力分布，为产品质量控制、工艺优化和失效分析提供科学依据。该检测服务广泛应用于航空航天、汽车制造、能源装备等领域，确保材料与部件的可靠性和安全性。

检测项目

残余应力值,应力梯度,应力分布均匀性,表面应力,深层应力,应力方向,应力张量,晶格畸变,微观应变,宏观应变,弹性常数,塑性变形,织构分析,相变应力,热处理残余应力,焊接残余应力,加工残余应力,疲劳应力,腐蚀应力,热应力

检测范围

金属材料,合金材料,陶瓷材料,复合材料,涂层材料,薄膜材料,焊接接头,铸件,锻件,轧制板材,管材,棒材,齿轮,轴承,叶片,模具,刀具,弹簧,紧固件,压力容器

检测方法

X射线衍射法：通过测量衍射角变化计算晶格应变和残余应力。

sin²ψ法：利用不同ψ角下的衍射峰位移计算应力。

侧倾法：通过倾斜样品改变测量几何，分析应力状态。

能量色散法：利用不同能量的X射线测量不同深度的应力。

二维探测器法：快速获取大面积应力分布。

微区应力分析：对小区域进行高分辨率应力测量。

原位应力分析：在加载或加热过程中实时监测应力变化。

多层膜应力分析：针对薄膜/基体系统的专用方法。

全场应力分析：结合数字图像相关技术实现全场应力可视化。

同步辐射XRD：利用高亮度光源进行高精度应力测量。

中子衍射法：用于大体积材料深层应力分析。

劳厄法：适用于单晶材料的应力分析。

摇摆曲线法：通过衍射峰形分析评估微观应变。

极图分析：结合织构信息修正应力计算结果。

应力断层扫描：实现三维应力场重构。

检测仪器

X射线衍射仪,残余应力分析仪,二维探测器系统,微区XRD系统,同步辐射装置,中子衍射仪,高分辨率衍射仪,便携式XRD仪,薄膜应力分析仪,织构测角仪,能量色散探测器,位置敏感探测器,低温XRD附件,高温XRD附件,应力断层扫描系统

北检院部分仪器展示