原子力显微镜(AFM)表面破碎检测

信息概要

原子力显微镜(AFM)表面破碎检测是一种高分辨率的表面形貌分析技术，通过探针与样品表面的相互作用力，实现对材料表面纳米级形貌、力学性能等的精确测量。该检测在材料科学、半导体、生物医学等领域具有重要应用价值，能够帮助客户评估材料表面完整性、缺陷分布及机械性能，为产品质量控制、工艺优化及研发提供关键数据支持。

检测项目

表面粗糙度，表面形貌，表面缺陷，表面硬度，表面弹性模量，表面粘附力，表面摩擦力，表面磨损，表面裂纹，表面台阶高度，表面颗粒分布，表面薄膜厚度，表面导电性，表面磁性，表面润湿性，表面化学组成，表面电位，表面应力分布，表面热导率，表面介电常数

检测范围

半导体材料，金属材料，陶瓷材料，聚合物材料，复合材料，纳米材料，生物材料，薄膜材料，涂层材料，光学材料，磁性材料，导电材料，绝缘材料，柔性材料，多孔材料，纤维材料，晶体材料，非晶材料，超硬材料，功能材料

检测方法

接触模式AFM：探针与样品表面直接接触，用于高分辨率形貌测量。

轻敲模式AFM：探针以共振频率振动，减少对样品的损伤。

非接触模式AFM：探针与样品表面保持距离，避免表面污染。

力调制模式AFM：测量表面弹性模量和硬度。

相位成像AFM：分析表面粘附力和材料组成差异。

磁力显微镜(MFM)：检测表面磁性分布。

静电力显微镜(EFM)：测量表面静电场分布。

扫描隧道显微镜(STM)：用于导电材料表面原子级形貌分析。

纳米压痕技术：测量材料局部力学性能。

摩擦力显微镜(FFM)：分析表面摩擦特性。

热导显微镜：测量表面热导率分布。

电化学AFM：研究表面电化学行为。

流体AFM：用于液体环境下的表面形貌分析。

高速AFM：实现动态过程的高时间分辨率观测。

多参数同步成像：同时获取多种表面性质数据。

检测仪器

原子力显微镜(AFM)，扫描隧道显微镜(STM)，磁力显微镜(MFM)，静电力显微镜(EFM)，摩擦力显微镜(FFM)，纳米压痕仪，扫描电子显微镜(SEM)，透射电子显微镜(TEM)，X射线衍射仪(XRD)，X射线光电子能谱仪(XPS)，拉曼光谱仪，红外光谱仪(FTIR)，椭偏仪，表面轮廓仪，白光干涉仪

北检院部分仪器展示