IC芯片引脚共面性分离测试

信息概要

IC芯片引脚共面性分离测试是确保芯片引脚在安装和使用过程中保持平整度与一致性的关键检测项目。该测试主要针对集成电路芯片引脚的物理特性进行评估，确保其符合行业标准与客户要求。检测的重要性在于，引脚共面性直接影响芯片与电路板的焊接质量，若引脚不平整可能导致焊接不良、信号传输故障甚至芯片失效。通过第三方检测机构的专业服务，客户可以精准把控产品质量，降低生产风险，提升产品可靠性。

检测项目

引脚高度偏差，测量引脚与基准面的垂直距离偏差。

引脚间距一致性，检测相邻引脚之间的间距是否符合设计标准。

引脚宽度公差，评估引脚宽度的允许偏差范围。

引脚长度一致性，检查引脚长度的均匀性。

引脚倾斜角度，测量引脚相对于基准面的倾斜程度。

引脚表面粗糙度，分析引脚表面的光滑度与均匀性。

引脚镀层厚度，检测引脚表面镀层的厚度是否符合要求。

引脚抗拉强度，评估引脚在受力情况下的抗拉性能。

引脚弯曲度，测量引脚在水平方向上的弯曲程度。

引脚共面性误差，计算所有引脚与基准面的最大偏差值。

引脚焊接性能，测试引脚与焊料的结合能力。

引脚氧化程度，评估引脚表面氧化层的存在情况。

引脚硬度，测量引脚材料的硬度值。

引脚疲劳寿命，模拟引脚在反复受力下的使用寿命。

引脚接触电阻，检测引脚与外部接触点的电阻值。

引脚绝缘性能，评估引脚之间的绝缘效果。

引脚耐腐蚀性，测试引脚在腐蚀环境中的稳定性。

引脚热膨胀系数，测量引脚在温度变化下的膨胀率。

引脚振动耐受性，评估引脚在振动环境中的可靠性。

引脚冲击耐受性，测试引脚在机械冲击下的抗损能力。

引脚清洁度，检查引脚表面是否存在污染物。

引脚尺寸精度，评估引脚实际尺寸与设计尺寸的吻合度。

引脚材料成分，分析引脚金属材料的化学成分。

引脚金相组织，观察引脚材料的微观结构。

引脚残余应力，检测引脚在加工过程中产生的内应力。

引脚耐磨性，评估引脚在摩擦环境中的耐久性。

引脚导电性，测量引脚的导电性能。

引脚可焊性，测试引脚与焊料的润湿性。

引脚外观缺陷，检查引脚表面是否存在划痕、凹陷等缺陷。

引脚涂层附着力，评估引脚表面涂层的结合强度。

检测范围

BGA芯片，QFP芯片，QFN芯片，SOP芯片，TSOP芯片，SSOP芯片，TSSOP芯片，LQFP芯片，PLCC芯片，CLCC芯片，DIP芯片，SIP芯片，CSP芯片，Flip Chip芯片，COB芯片，MCM芯片，SiP芯片，Wafer芯片，裸芯片，封装芯片，模拟芯片，数字芯片，混合信号芯片，射频芯片，功率芯片，存储器芯片，微处理器芯片，传感器芯片，光电子芯片，逻辑芯片

检测方法

光学轮廓测量法，通过光学设备测量引脚的三维轮廓数据。

激光共聚焦显微镜法，利用激光扫描技术检测引脚表面形貌。

白光干涉法，通过干涉条纹分析引脚的共面性。

接触式探针测量法，使用探针直接接触引脚进行高度测量。

X射线检测法，通过X射线成像观察引脚的内部结构与位置。

扫描电子显微镜法，利用高倍电子显微镜观察引脚微观形貌。

金相切片法，对引脚进行切片并观察其截面结构。

拉伸试验法，测试引脚在拉力作用下的力学性能。

弯曲试验法，评估引脚在弯曲力作用下的变形能力。

硬度测试法，测量引脚材料的硬度指标。

盐雾试验法，模拟腐蚀环境测试引脚的耐腐蚀性。

热循环试验法，通过温度变化测试引脚的热稳定性。

振动试验法，模拟振动环境评估引脚的机械可靠性。

冲击试验法，测试引脚在瞬间冲击下的抗损能力。

电性能测试法，测量引脚的电气参数如电阻、电容等。

焊接性能测试法，评估引脚与焊料的结合效果。

表面粗糙度测量法，分析引脚表面的光滑度。

镀层厚度测量法，检测引脚表面镀层的厚度。

清洁度测试法，评估引脚表面的污染物含量。

尺寸精度测量法，通过精密仪器测量引脚的实际尺寸。

检测仪器

光学轮廓仪，激光共聚焦显微镜，白光干涉仪，接触式探针测量仪，X射线检测仪，扫描电子显微镜，金相显微镜，万能材料试验机，硬度计，盐雾试验箱，热循环试验箱，振动试验台，冲击试验机，电性能测试仪，焊接性能测试仪

北检院部分仪器展示